产品/服务
PRODUCT/SERVICE
产品搜索
元素含量分析仪器
能量色散型X射线荧光仪(EDX)
波长色散型X射线荧光仪(XRF)
电感耦合等离子光谱仪(ICP)
电感耦合等离子质谱仪(ICP-MS)
原子吸收(AA)
直读光谱仪(OES)
碳硫分析仪
氧氮氢分析仪
激光诱导击穿光谱仪(LIBS)
辉光放电光谱仪
原子荧光光谱仪
元素分析仪/有机元素分析仪
凯氏定氮仪
火焰光度计
同位素分析仪
液相色谱原子荧光联用仪(LC-AFS)
化合物含量分析仪器
表面观察仪器
结构分析仪器
电化学分析仪器
物理性能分析仪器
量具工具
行业专用仪器
实验室辅助及前处理设备
在线及过程控制仪器
化学试剂
标准物质
耗材配件
实验室服务
产品服务
-元素含量分析仪器
-能量色散型X射线荧光仪(EDX)
型号：EDX-LE Plus
品牌：岛津[shimadzu]
行业：有机化工 冶炼行业 机械铸造 建材行业 食品制药 固废环保 电子电器 电池行业 新兴行业 整车行业 大学科研 分析检测
咨询电话：4000887086
追求省时省力，高速筛选分折
能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析检测出来。
降低运行成本，减少日常维护量
针对外检等可对多数产品以管理值为标准检测有害元素含量是否达标而使用的筛选分析，被进一步要求其提高现场操作性和降低运行成本。
配备无需液氮型检测器
由于配备了无需液氮进行冷却的检测器，因此大幅削减了使用时的运行成本。
为延长X光管的寿命而进行的光管老化（稳定性运转）是装置管理上必不可缺的。在装置长期不运行的情况下，再次启动时需要对X射线光管进行老化处理，而该装置可自动执行该功能以防故障发生，进而提高操作性。
自动老化功能
测试前的装置自检功能
为了随时得到准确的分析结果装置需要进行校正，而用户们希望尽可能在短时间内完成校正时的操作和判定。EDX-LE Plus在开启仪器后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助，当需要进行校正时会自动进行校正。
装置自检功能
配备针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能
尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE Plus从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平。
简洁的高精度筛选分析
电源ON之后只需15分钟的稳定时间就可开始分析。当对象元素含量合格与否的判定确认后，为缩短时间装置会自动停止测定，但该仪器也可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置有1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
下图为塑胶材料（PVC材料包裹的线材）的测定实例。管理标准简单的显示为OK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定为RoHS法规最大可允许浓度标准。
配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义
在日常操作中根据产品的不同会经常变更管理值，而该产品可以根据管理方法对筛选分析条件轻松自定义。从开始分析到制成分析报告所有操作都可以更有效的进行。另一方面，该装置在软件操作上配备了权限限制设定，从而避免了没有变更筛选分析条件权限的人员由于误操作而改变条件的现象。
根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的不同所显示的阈值下限。
在分析报告中如何表示分析结果“低于阈值”“灰色区域”“阈值范围内”，也可自定义设置。
分析报告的模版也可以设定。可在随机附带的模版中选择。
通过输入密码可变更筛选分析条件和环境设定等各类设定条件，从而提高软件操作的安全性和保密性。
利用 [筛选分析] 画面、操作简单方便
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便测定。
-- 将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。
-- 选择分析区域。
-- 关闭样品室。
-- 一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
-- 点击开始。
-- 测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。
-- 点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。
只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，自动执行从测定到结果的一系列操作。
校准曲线自动选择功能
标准配备了RoHS/ELY/无卤素分析所需的各种功能
EDX-LE Plus标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得优秀的RoHS/ELV/无卤素分析系统。
测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
3mmφ（金属）
形状校正功能
即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-LE Plus通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。※BG内标法：通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
测定结果列表管理
创建列表功能已保存数据可以用Excel形式列表显示。
大样品室可以对应各种样品形态及大小。
最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身望尘莫及。
