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-表面观察仪器
-扫描电子显微镜(SEM)
型号：Talos F200X
品牌：FEI
行业：有机化工 冶炼行业 机械铸造 建材行业 食品制药 固废环保 电子电器 电池行业 新兴行业 整车行业 大学科研 分析检测
咨询电话：4000887086
FEI Talos F200X融合了高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能与能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X可在所有维度 (1D-4D) 下实现快速的 EDS 分析，以及支持快速导航的动态显微镜 HRTEM 成像。
Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。与此同时，FEI Talos F200S还提供高的稳定性和长的正常运行时间。
明场X-FEG：1.8×109 A/cm2 srad（@200kV）
总束电流：>50nA
探针电流：2nA@1nm探针（200 kV）；0.4 nA@0.31nm探针
EDS系统：2 SDD无窗设计，shutter保护
能量分辨率：≤136 eV，对Mn-Kalpha和10kcps（输出）
快速EDS：像素驻留时间低至10 us除了这些基本特性外，本中心的Talos还装备：
1、Ceta 4K*4K 相机；
2、用于STEM模式的环形暗场探头（HAADF）以及BF/DF探头；
3、Gatan 626冷冻传输样品杆，单倾样品杆以及三维重构样品杆；
4、 单颗粒技术自动化数据收集系统EPU和电子断层扫描技术自动化数据收集软件Xplore3D。
Talos可以满足冷冻单颗粒技术、冷冻电子断层扫描技术、STEM电子断层扫描技术的数据收集需求，如：
1、进行液氮温度的冷冻样品数据收集；
2、可进行单颗粒样品数据收集；